激光诱导损伤阈值（ LIDT ）是指光学材料或元件在激光辐照下，不发生永久性损伤所能承受的最大激光能量密度（单位面积能量， J/cm² ，通常用于脉冲激光）或功率密度（单位 线 功率， W/cm ，通常用于连续或长脉冲激光）。它是衡量光学元件在特定激光条件下可靠性的关键参数，决定了激光系统的最大安全工作范围和使用寿命。

LIDT 的 物理意义在于界定了一个 “ 安全区 ” ，低于此阈值的激光参数通常不会引起材料的宏观永久性改变，而超过此阈值则可能导致材料表面或内部出现烧蚀、熔融、裂纹、变色、等离子体闪光等不可逆损伤。

激光与物质相互作 用导致损伤的机制非常复杂，主要取决于激光参数 （波长、脉宽、强度）和材料特性 ：

热损伤 ( Thermal Damage )： 主要由材料对激光能量的吸收（线性吸收、缺陷吸收）引起。吸收的能量转化为热量，导致材料温度升高。当温度超过材料的熔点、沸点或发生相变、产生过大热应力时，就会发生热损伤（如熔融、气化、热致断裂）。这种机制在长脉 冲 和连续波（ CW ）激光辐照下占主导地位。

电损伤/ 等离子体形成  ( Dielectric Breakdown / Plasma Formation )：在短脉冲（皮秒ps、飞秒fs级）和极高光强下，电场强度足以直接破坏物质的束缚电子。主要过程包括 ：

○多光子电离  ( Multiphoton Ionization, MPI )： 材料中的电子同时吸收多个光子的能量，跃迁到导带，产生自由电子。

○ 隧穿电离  ( Tunnel Ionization )： 在极强激光电场作用下，原子势垒发生倾斜和变窄，电子有概率直接隧穿逸出。

○雪崩电离   ( Avalanche Ionization )： 初始产生的少量自由电子（来自 MPI 、隧穿或材料固有缺陷）在激光电场中被加速获得能量，碰撞束缚电子使其电离，产生更多自由电子，形成指数级增长的雪崩效应。 最终形成高密度的电子等离子体，等离子体强烈吸收后续的激光能量，导致能量快速沉积和材料的烧蚀破坏。

如色心形成、累积效应（多次脉冲作用下的疲劳损伤）、自聚焦等也可能参与损伤过程。

○波长 (Wavelength,  λ)：通常，波长越短，单光子能量越高，越容易引发多光子吸收和电离，且很多材料在短波段的吸收系数更高，因此短波长的 LIDT 通常更低。

○脉冲宽度 (Pulse Width,  τ)：这是极其关键的参数。长脉冲 (ns)：损伤机制以热效应为主，热量有时间在材料中扩散。脉宽越长，热量扩散范围越大，达到损伤温度所需的能量密度越高。短脉冲 (fs, ps)：损伤机制以多光子/雪崩电离为主，过程极快，热扩散效应不明显。损伤主要取决于峰值功率密度（光强）。

○脉宽换算/定标律 (Scaling Law)：在纳秒  (ns)区域，经验和理论表明，对于主要由热传导和缺陷吸收主导的损伤，LIDT（能量密度，Fluence, F）通常与脉冲宽度的平方根成正比：

相应地，更精确的模型如下：

其中，F_th (τ₁) 是 已知脉宽 τ1 下 的损伤阈值（能量密度J/cm ² ）， F_th (τ₂) 是待求脉宽 τ₂下的损伤阈值。指数κ是脉宽定标因子，对于ns脉冲，κ值通常在0.3到0.5 之间，具体数值取决于材料、波长和主要的损伤机制（κ=0.5对应理想的热扩散模型） 。这个定标律是估算不同脉宽下LIDT的重要工具，但需注意其适用范围主要在ns量级。对于超短皮秒与飞秒脉冲，热扩散效应可以忽略，损伤主要由峰值光强I_th决定，此时能量密度阈值F_th=I_th·τ与脉宽的关系不再遵循平方根规律，κ值趋近于0或更小，甚至可能出现阈值随脉宽增加而略微下降的情况。因此，不能简单地将ns区的定标律外推到ps/fs区。

光斑尺寸  (Spot Size, ω)： 较小光斑通常会照射到更少的材料缺陷，统计上可能表现出更高的 LIDT 。但过小的光斑可能导致测量误差增大，且边缘效应更显著。对于热损伤机制，光斑尺寸也影响热扩散的几何维度。 ISO 标准中规定了测试时的最小光斑尺寸。例如，ISO 11254-1和ISO 21254系列标准(激光损伤阈值测试)通常要求光斑直径不小于特定值(通常在数百微米量级)，标准中也规定了光斑尺寸的测量方法，如1/e²强度下降点法或FWHM(半高全宽)法。

重复频率  (Repetition Rate)： 高重复频率下，脉冲间隔可能不足以让材料完全冷却，导致热量累积，从 而降低有效 LIDT 。这种效应称为热累积效应或孵化效应（ Incubation Effect ）。

○吸收系数  ( Absorption Coefficient ) ： 包括线性吸收、非线性吸收（如双光子吸收 TPA ）以及由缺陷、杂质、污染物引起的外部吸收。吸收越高， LIDT 越低。

○带隙宽度  ( Band Gap Energy ) ： 宽带隙材料需要更高能量的光子或更多光子同时作用才能激发电子，通常具有更高的抗电损伤能力。

○热导率  ( Thermal Conductivity ) ： 高热导率有助于快速散发吸收的热量，提高抗热损伤能力。

○缺陷与杂质  ( Defects and Impurities ) ： 是主要的能量吸收中心和损伤起始点。材料纯度、晶体质量、表面 / 亚表面缺陷（划痕、麻点、抛光残留物）对 LIDT 有决定性影响。 表面损伤阈值通常远低于体损伤阈值 。

○薄膜涂层  ( Coatings) ： 光学元件通常包含增透或高反膜层。膜层的材料选择、设计（电场分布）、沉积工艺、层间界面质量极大地影响 LIDT 。

○温度  ( Temperature ):  环境温度升高会降低材料达到损伤临界温度所需的额外能量，可能降低 LIDT 。

○环境气氛  ( Atmosphere ):  真空环境通常比大气环境有更高的 LIDT ，因为避免了空气中的等离子体产生和表面化学反应。湿度、污染物颗粒等也会影响。

○清洁度  ( Cleanliness ):  表面污染物（灰尘、油脂等）是强吸收中心，会急剧降低 LIDT ，尤其是在高功率激光下。

主要机制 :  CW 激光损伤几乎完全是 热效应 主导，即材料吸收激光能量导致温度升高，直至熔化、烧蚀或热应力断裂。

功率密度 / 辐照度  (Power Density / Irradiance, W/cm²):  这是最直接的衡量标准。 I_th 表示 单位面积上允许的最大连续激光功率。它直接关系到表面的热流密度。

其中 I_th 是阈值功率 ， Α是光斑面积。

线功率密度  (Linear Power Density, W/cm) :   此指标在大多数连续光损伤阈值评估与测算下使用，例如：

对于连续激光评估损伤阈值选用线功率密度的原因： 对于某些几何形状或受热不均的元件，沿某一方向的功率积分（即线功率密度）可能与热应力分布更相关。 缘由 ： 使用线功率密度（ W/cm ）是因为在这些一维或准一维的几何结构中，热量主要沿径向（或垂直于线的方向）散失，而沿轴向（或线的方向）的温度梯度和热积累与单位长度上的总输入功率更直接相关：

它简化了在特定几何约束下的热管理和损伤评估。 额外的，D为光斑直径或线光斑长度。

脉冲激光损伤阈值 ( Laser-Induced Damage Threshold (LIDT) for pulsed lasers) 是指材料或光学元件开始发生不可逆损伤的最小激光能量密度。为了评估材料在高强度脉冲激光照射下的损伤特性，需要对激光参数与材料表面接收能量之间的关系进行量化分析。

下表列出了脉冲激光在与材料相互作用过程中常用的物理量及其计算方法，包括激光能量、峰值功率、脉冲持续时间、光斑面积、能量密度和峰值功率密度等关键参数。这些参数之间具有明确的数学关系，是判断激光损伤阈值、设计激光实验方案和评估光学元件承受能力的基础。通过合理计算并控制这些参数，可以有效地避免材料损伤，提高系统稳定性和实验重复性。 以下为 脉冲激光损伤阈值相关参数及其计算关系 ：

计算实例演示：假设已知激光器参数如表所示。

更进一步地，假设我们知道某光学元件的实测脉冲激光损伤阈值，通过上表的计算实例得出的能量密度我们可以在相同脉冲宽度情况下进行一定安全裕量的评估。相应地，安全裕量S（ Safety threshold damage index ）通常根据安全需求设置为1~10倍，即元件的损伤阈值为LIDT/S 。

最后一种情况也是最为棘手的，如果元件标称所示的损伤阈值的测试激光器的脉宽与我们的激光器脉宽不一致，此时便需要使用到我们上文所提及的脉宽换算公式，以下为换算实例：

在脉宽从200ns缩短到10ns的情况下，激光损伤阈值下降到了约 0.057J/cm² 。也就是说，材料变得更“ 脆弱 ”了，对短脉冲激光更敏感 。

在纳秒级使用此经验公式相对安全，十分不建议将该经验公式延拓至飞秒 / 皮秒量级的损伤阈值脉宽换算，此换算适用于波长相近，重复频率相近，且脉宽相近的情况，下图表罗列出来了具体原因：

以下为一些典型光学元件与镀膜的参考损伤阈值范围：