LBTEK提供的光谱分析仪是一种用于光纤信号光谱分析的衍射光栅光谱分析仪,适用于600-1700 nm的光谱测量,可由单模光纤输入。仪器可触屏操作,便于现场应用,且内置多种测量功能,可实现WDM系统测量、脉冲激光测量、DFB光源测量、EDFA性能测量、反射率/透射率测试以及光纤传感器测试等功能。此外,用户还可以通过U盘将光谱分析仪测试得到的曲线数据和图片导出,以便进行各种数据分析。
配件名称 | 数量 |
光谱分析仪主体 | 1 |
电源线 | 1 |
检测报告 | 1 |
光谱分析仪参数说明
光谱仪的工作原理主要依赖于光的衍射现象。当光线穿过狭缝并准直地照射到光栅上时,由于光栅的色散作用,不同波长的光会产生不同的衍射角度,从而相互分离,形成光谱。这些光谱最终聚焦并成像在探测器的不同位置。通过标定过程,可以获取与每个像素对应的波长和强度值,进而获得光源的详细谱线信息。光谱仪的分辨率由谱线之间的分离程度、狭缝图像的尺寸以及像素的尺寸共同决定。
波长范围
波长范围指光谱分析仪可以测量的波长区间,是衡量光谱分析仪测量能力的关键指标,它决定了仪器的适用性和测量精度。这一参数与光栅的刻线密度、材料特性以及探测器类型有着直接的联系。LBTEK光谱分析仪的检测波长区间为600-1700nm,覆盖范围从可见光延伸至近红外区域,广泛应用于科研和工业领域。
光谱分辨率
光谱分辨率描述了光谱仪能够分辨波长的能力,是光谱仪的重要指标。高光谱分辨率可以获得更准确的谱峰位置,并能区分彼此靠近的谱峰。光谱仪分辨率取决于光栅刻线数、系统的有效焦长、设定的狭缝宽度、系统的光学像差以及其它参数。
扫描速度
扫描速度是指光谱仪在单位时间内扫描的波长范围,高速扫描可以提高测量效率,但可能会牺牲分辨率和信噪比。
信噪比
信噪比是指信号强度与背景噪声强度的比值,描述了光谱仪把光信号转换为电信号的能力,高的信噪比有助于减小电路自身的噪声对结果的影响,可以提高测量的准确性和可靠性,适用于低光强和高精度的应用。光源强度、探测器性能、电路设计、环境因素等都会影响光谱仪的信噪比。
应用
光栅光谱仪因其高分辨率、宽波长范围和高灵敏度等优点,在多个领域有着广泛的应用。以下是光栅光谱仪的一些应用领域:
①光通信,可用于WDM系统测量、光纤通信测试、光放大器(EDFA)性能测试;
②光谱成像,可与成像技术相结合,实现光谱成像功能;
③化学分析,拉曼光谱、荧光光谱、红外光谱可应用于不同化学物质的分析;
④物理研究,可用于原子与分子光谱、激光特性测量以及等离子体诊断;
LBTEK提供的AE8560便携式光谱分析仪的波长响应范围是600-1700nm,适用于单模光纤输入,动态范围高达60dB,能够有效分离相近的光谱信号。AE8560拥有丰富的测试功能,可用于半导体激光器(DFB、FP)光谱特征测量、WDM系统测试、EDFA系统参数测试、透过率测试和漂移测试。同时AE8560拥有10.1英寸超大触屏操作,便于现场应用,可以清晰显示详细波形和数值结果。
光纤激光器测试曲线图
产品型号 |
波长范围
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光谱分辨率
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功率范围
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单价 | 对比 | 发货日期 | |||
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AE8560 | 600-1700 nm | 0.04 nm@1550 nm | -75 dBm~+20 dBmc | 联系客服 | 联系客服 |
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AE8600E高性能光谱分析仪是一款用于光纤信号光谱分析的衍射光栅光谱分析仪,其波长响应范围是600-1700 nm,适用于单模和多模光纤输入,动态范围高达75 dB,能够有效分离相近的光谱信号,执行精确测量。AE8600E拥有7种波长分辨率设置0.02 nm~2 nm,可以根据测试需求选择最佳值,仪器内置校准功能,可达到±0.01 nm高波长精度。AE8600E可广泛应用于波分复用光纤通信、光纤传感、光纤陀螺、脉冲激光、激光雷达、光子集成芯片、光学相干成像等高分辨率光谱检测与分析需求等领域。
光纤激光器测试曲线图
产品型号 |
波长范围
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光谱分辨率
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功率范围
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单价 | 对比 | 发货日期 | |||
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AE8600E | 600-1700 nm | 0.02-2 nma | -90 dBm~20 dBmd | 联系客服 | 联系客服 |
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产品型号 | 波长 | 当前波长(nm) | 当前透射率(%) |
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