结构光照明显微(Structured Illumination Microscopy,SIM)是一种低光毒性、高时间分辨率与高空间分辨率的荧光显微成像技术。基于光学传递函数扩展的原理,相比于传统荧光显微镜能够突破光学衍射极限,实现两倍分辨率的提升。作为超分辨成像技术,SIM可以在时间分辨率和空间分辨率中提供更好的平衡,且SIM对荧光探针无特殊要求,可广泛应用于活细胞成像等生物医学领域研究。
LBTEK 的SIM-FL-300超分辨荧光显微成像系统结构紧凑,所有元件安装在一块面包板上,方便整体移动,所占空间小,可以在有限空间内进行应用。硬件设备控制软件的集成与严格的时序同步实现了快速、高效的图像拍摄,高集成度和简易操作的软件界面允许用户通过PC端进行参数设置与图像采集。系统搭载的无源偏振控制模块,在不损失时间分辨率的前提下实现物镜后焦面超过40:1的偏振消光比,可达到原始图像超过4.0的条纹调制噪声比(MCNR)。系统采用高速sCMOS科学相机和数字微镜DMD,结合高分辨率物镜,超分辨成像时间分辨率可达5 ms,空间(横轴)分辨率可达140 nm。组合使用三轴不锈钢位移台与压电位移台实现了平稳的焦距粗调与细调,同时允许定位样本。SIM-FL-300具备高扩展性及高性价比,既可以用于日常的实验研究,也可满足超分辨荧光显微教学实验需求。对于有整机采购需求的用户,LBTEK提供全面周到的定制化服务,包括TIRF-SIM,Multi-color SIM,3D-SIM等。如有定制需求,请联系LBTEK技术支持。