光束质量分析仪

  • 参数规格
产品说明
  • 光束特性实时提取
  • 可用于连续或脉冲激光
  • 可见光和紫外波长可选
  • 提供中性密度滤光片选项
  • 增强背景和热像素处理,实现最佳动态和信噪比

     LBTEK提供的光束质量分析仪人机交互界面简单易操作,为激光束提供全面的分析和统计。BeamPro软件使用标准通信协议。可以通过网络从远程屏幕控制多个BeamPro。它们适用于波长375 nm-1100 nm和光斑尺寸至11.2 mm的光束。对于聚焦光束测量,也有像素小至2.2 μm的高分辨率。有效探测面积最大为11.2 mm*11.2 mm,分辨率420万像素,最短曝光时间10 µs。支持多种参数和方法(包括ISO计算),客户机/服务器接口,可通过网络进行远程控制,光束质量分析仪内部集成的功率计可由用户自行校准,因此不需要使用外部功率计就能理想地同步并优化功率和光束形状。为了补偿环境光,从光束轮廓测量值中减去环境光强度的平均测量值。自动曝光和增益控制功能使相机设置适应实际光束强度。光束质量分析仪发货时附带BeamPro软件包。

通用参数
工作波长
375 nm-1100 nm(190 nm–1100 nm,紫外可选)
传感器类型
CMOS 12位
PC接口
USB 3.1
尺寸(mm)
36.1 mm x 39 mm x 46.1 mm
光束质量分析仪,CMOS相机式
  • 分辨率:最高可达5472 x 3648
  • 最小单像素尺寸:2.2 µm*2.2 µm
  • C Mount光学接口

LBTEK光束质量分析仪人机交互界面简单易操作,为您的激光束提供全面的分析和统计。BeamPro软件使标准通信协议。可以通过网络从远程屏幕控制多个BeamPro。它们适用于375 nm-1100 nm的工作波长和光斑直径至11.2 mm的光束。对于聚焦光束测量,也有像素小至2.2 μm的高分辨率。光束质量分析仪包含一个高质量的12位CMOS,有效探测面积最大11.26 mm*11.26 mm,分辨率420万像素,最短曝光时间10 µs。

实测光斑尺寸图
产品型号 工作波长 光束直径范围 探测面积 对比 文件 单价 发货日期 购物车
BP 6.4 375 nm-1100 nm(190 nm–1100 nm,紫外可选) 18 μm~4.2 mm 5.6 mm x 4.2 mm
¥31500 8周
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BP 11.7 375 nm-1100 nm(190 nm–1100 nm,紫外可选) 48 μm-7.0 mm 11.2 mm x 7 mm
¥42000 8周
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BP 11.11 375 nm-1100 nm(190 nm–1100 nm,紫外可选) 48 μm-11.2 mm 11.2 mm x 11.2 mm
¥54750 8周
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