光束质量分析仪—

参数规格
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产品说明

光束特性实时提取
可用于连续或脉冲激光
可见光、紫外波长和近红外波长可选
提供中性密度滤光片选项
增强背景和热像素处理，实现最佳动态和信噪比

LBTEK提供的光束质量分析仪人机交互界面简单易操作，为激光束提供全面的分析和统计。BeamPro软件使用标准通信协议。可以通过PC端控制多个BeamPro软件。其分别适用于波长375 nm-1100 nm或190 nm–1100 nm，光斑尺寸最大为12.3 mm的光束，拥有不同的探测面积、像元尺寸及分辨率、最短曝光时间可达微秒量级，可以满足客户不同的应用需求。支持多种参数和方法（包括ISO计算），客户机/服务器接口及网络远程控制。光束质量分析仪内部集成的功率计可由用户自行校准，因此不需要使用外部功率计就能理想地同步并优化功率和光束形状。为了补偿环境光，需要从光束轮廓测量值中减去环境光强度的平均测量值。自动曝光和增益控制功能使相机更好的适应实际光束强度以达到更好的成像质量。光束质量分析仪发货时附带BeamPro软件包。

通用参数

传感器类型

CMOS 12 bit

PC接口

USB 3.1

光学接口

C-Mount

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光束质量分析仪，CMOS相机式

传感器类型：CMOS 12 bit
分辨率：最高可达4512×4512
最小单像素尺寸：2.4 µm×2.4 µm
C-Mount光学接口

LBTEK 光束质量分析仪人机交互界面简单易操作，拥有不同的工作波长、探测面积、像元尺寸及分辨率，可以满足客户不同的应用需求。支持多种参数和方法（包括ISO计算），客户机/服务器接口及网络远程控制，自动曝光和增益控制功能可以使相机更好地适应实际光束强度以达到更好的成像质量。光束质量分析仪发货时附带BeamPro软件包。

实测光斑尺寸图

产品型号	工作波长	光束直径范围	探测面积	文件	单价	发货日期 	购物车
BP12.12-UV	190 nm-1100 nm	28 μm-12.3 mm	12.3 mm×12.3 mm		￥105080	联系客服	加入购物车
BP12.12+-UV	190 nm-1100 nm	14 μm-12.3 mm	12.3 mm×12.3 mm		￥128316	联系客服	加入购物车
BP12.12+	375 nm-1100 nm	14 μm-12.3 mm	12.3 mm×12.3 mm		￥119646	8周	加入购物车
BP12.12	375 nm-1100 nm	28 μm-12.3 mm	12.3 mm×12.3 mm		￥96410	8周	加入购物车
BP11.11+-UV	190 nm-1100 nm	28 μm-11.2 mm	11.2 mm×11.2 mm		￥83926	联系客服	加入购物车
BP11.11+	375 nm-1100 nm	28 μm-11.2 mm	11.2 mm×11.2 mm		￥75256	当天	加入购物车

薄片式光束质量分析仪，CMOS相机式

传感器类型：CMOS 12 bit
分辨率：最高可达2056×1542
最小单像素尺寸：3.45 µm×3.45 µm
C-Mount光学接口
薄片式结构，最大厚度12.5 mm

LBTEK 薄片式光束质量分析仪人机交互界面简单易操作，拥有不同的工作波长、探测面积、像元尺寸及分辨率，可以满足客户不同的应用需求，薄片式结构，外形小巧。支持多种参数和方法（包括ISO计算），客户机/服务器接口及网络远程控制，自动曝光和增益控制功能可以使相机更好地适应实际光束强度以达到更好的成像质量。光束质量分析仪发货时附带BeamPro软件包。

实测光斑尺寸图

	产品型号	工作波长	光束直径范围	探测面积	对比	文件	单价	发货日期 	购物车
	Micro-BP7.4-UV	190 nm-1100 nm	17 μm-4.2 mm	6.6 mm×4.2 mm			￥65025	联系客服	加入购物车
	Micro-BP7.4	375 nm-1100 nm	17 μm-4.2 mm	6.6 mm×4.2 mm			￥56355	8周	加入购物车