微纳光学
Micro-nano optics
LBTEK提供的光束质量分析仪人机交互界面简单易操作,为激光束提供全面的分析和统计。BeamPro软件使用标准通信协议。可以通过网络从远程屏幕控制多个BeamPro。它们适用于波长375 nm-1100 nm和光斑尺寸至11.2 mm的光束。对于聚焦光束测量,也有像素小至2.2 μm的高分辨率。有效探测面积最大为11.2 mm*11.2 mm,分辨率420万像素,最短曝光时间10 µs。支持多种参数和方法(包括ISO计算),客户机/服务器接口,可通过网络进行远程控制,光束质量分析仪内部集成的功率计可由用户自行校准,因此不需要使用外部功率计就能理想地同步并优化功率和光束形状。为了补偿环境光,从光束轮廓测量值中减去环境光强度的平均测量值。自动曝光和增益控制功能使相机设置适应实际光束强度。光束质量分析仪发货时附带BeamPro软件包。
工作波长
375 nm-1100 nm(190 nm–1100 nm,紫外可选) |
传感器类型
CMOS 12位 |
PC接口
USB 3.1 |
尺寸(mm)
36.1 mm x 39 mm x 46.1 mm |
LBTEK光束质量分析仪人机交互界面简单易操作,为您的激光束提供全面的分析和统计。BeamPro软件使标准通信协议。可以通过网络从远程屏幕控制多个BeamPro。它们适用于375 nm-1100 nm的工作波长和光斑直径至11.2 mm的光束。对于聚焦光束测量,也有像素小至2.2 μm的高分辨率。光束质量分析仪包含一个高质量的12位CMOS,有效探测面积最大11.26 mm*11.26 mm,分辨率420万像素,最短曝光时间10 µs。
产品型号 | 工作波长 | 光束直径范围 | 探测面积 | 对比 | 文件 | 单价 | 发货日期 | 购物车 | |
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BP 6.4 | 375 nm-1100 nm(190 nm–1100 nm,紫外可选) | 18 μm~4.2 mm | 5.6 mm x 4.2 mm |
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¥31500 | 8周 |
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BP 11.7 | 375 nm-1100 nm(190 nm–1100 nm,紫外可选) | 48 μm-7.0 mm | 11.2 mm x 7 mm |
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¥42000 | 8周 |
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BP 11.11 | 375 nm-1100 nm(190 nm–1100 nm,紫外可选) | 48 μm-11.2 mm | 11.2 mm x 11.2 mm |
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¥54750 | 8周 |
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