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光束质量分析仪

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产品说明
  • 光束特性实时提取
  • 可用于连续或脉冲激光
  • 可见光和紫外波长可选
  • 提供中性密度滤光片选项
  • 增强背景和热像素处理,实现最佳动态和信噪比

     LBTEK提供的光束质量分析仪人机交互界面简单易操作,为激光束提供全面的分析和统计。BeamPro软件使用标准通信协议。可以通过PC端控制多个BeamPro软件。其分别适用于波长375 nm-1100 nm、190 nm–1100 nm或900 nm-1700 nm,光斑尺寸最大为12.3 mm的光束,拥有不同的探测面积、像元尺寸及分辨率、最短曝光时间可达微秒量级,可以满足客户不同的应用需求。支持多种参数和方法(包括ISO计算),客户机/服务器接口及网络远程控制。光束质量分析仪内部集成的功率计可由用户自行校准,因此不需要使用外部功率计就能理想地同步并优化功率和光束形状。为了补偿环境光,需要从光束轮廓测量值中减去环境光强度的平均测量值。自动曝光和增益控制功能使相机更好的适应实际光束强度以达到更好的成像质量。光束质量分析仪发货时附带BeamPro软件包。

通用参数
PC接口
USB 3.1
光学接口
C-Mount
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光束质量分析仪,InGaAs探测器
  • 传感器类型:InGaAs 14 bit
  • 分辨率:最高可达1280×1024
  • 最小单像素尺寸:10 µm×10 µm
  • C-Mount光学接口

LBTEK 光束质量分析仪人机交互界面简单易操作,拥有不同的工作波长、探测面积、像元尺寸及分辨率,可以满足客户不同的应用需求,InGaAs探测器不带保护窗口,具有更好的探测性能。支持多种参数和方法(包括ISO计算),客户机/服务器接口及网络远程控制,自动曝光和增益控制功能可以使相机更好地适应实际光束强度以达到更好的成像质量。光束质量分析仪发货时附带BeamPro软件包。

实测光斑尺寸图
产品型号 工作波长 光束直径范围 探测面积 对比 文件 单价 发货日期 购物车
BP-SWIR-5.4new 900 nm-1700 nm 75 μm-3.8 mm 4.8 mm×3.8 mm
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BP-SWIR-10.8new 900 nm-1700 nm 75 μm-7.7 mm 9.6 mm×7.7 mm
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BP-SWIR-13.10new 900 nm-1700 nm 50 μm-10.2 mm 12.8 mm×10.2 mm
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光束质量分析仪,CMOS相机式
  • 传感器类型:CMOS 12 bit
  • 分辨率:最高可达4512×4512
  • 最小单像素尺寸:2.4 µm×2.4 µm
  • C-Mount光学接口

LBTEK 光束质量分析仪人机交互界面简单易操作,拥有不同的工作波长、探测面积、像元尺寸及分辨率,可以满足客户不同的应用需求。支持多种参数和方法(包括ISO计算),客户机/服务器接口及网络远程控制,自动曝光和增益控制功能可以使相机更好地适应实际光束强度以达到更好的成像质量。光束质量分析仪发货时附带BeamPro软件包。

实测光斑尺寸图
产品型号 工作波长 光束直径范围 探测面积 对比 文件 单价 发货日期 购物车
BP7.5-UV 190 nm–1100 nm 12 μm-4.9 mm 7.4 mm×4.9 mm
¥58572 联系客服
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BP7.5 375 nm-1100 nm 12 μm-4.9 mm 7.4 mm×4.9 mm
¥47762 8周
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BP12.12-UVnew 190 nm-1100 nm 28 μm-12.3 mm 12.3 mm×12.3 mm
¥101000 联系客服
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BP12.12+-UVnew 190 nm-1100 nm 14 μm-12.3 mm 12.3 mm×12.3 mm
¥123333 联系客服
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BP12.12+new 375 nm-1100 nm 14 μm-12.3 mm 12.3 mm×12.3 mm
¥115000 8周
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BP12.12new 375 nm-1100 nm 28 μm-12.3 mm 12.3 mm×12.3 mm
¥92667 8周
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BP11.11+-UVnew 190 nm-1100 nm 28 μm-11.2 mm 11.2 mm×11.2 mm
¥80667 联系客服
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BP11.11+new 375 nm-1100 nm 28 μm-11.2 mm 11.2 mm×11.2 mm
¥72333 8周
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薄片式光束质量分析仪,CMOS相机式
  • 传感器类型:CMOS 12 bit
  • 分辨率:最高可达2056×1542
  • 最小单像素尺寸:3.45 µm×3.45 µm
  • C-Mount光学接口
  • 薄片式结构,最大厚度12.5 mm

LBTEK 薄片式光束质量分析仪人机交互界面简单易操作,拥有不同的工作波长、探测面积、像元尺寸及分辨率,可以满足客户不同的应用需求,薄片式结构,外形小巧。支持多种参数和方法(包括ISO计算),客户机/服务器接口及网络远程控制,自动曝光和增益控制功能可以使相机更好地适应实际光束强度以达到更好的成像质量。光束质量分析仪发货时附带BeamPro软件包。

实测光斑尺寸图
产品型号 工作波长 光束直径范围 探测面积 对比 文件 单价 发货日期 购物车
Micro-BP7.4-UV 190 nm-1100 nm 17 μm-4.2 mm 6.6 mm×4.2 mm
¥62500 联系客服
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Micro-BP7.4 375 nm-1100 nm 17 μm-4.2 mm 6.6 mm×4.2 mm
¥54167 8周
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Micro-LP7.5-UVnew 190 nm-1100 nm 17 μm-5.3 mm 7.1 mm×5.3 mm
¥60833 联系客服
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Micro-LP7.5new 375 nm-1100 nm 17 μm-5.3 mm 7.1 mm×5.3 mm
¥51167 8周
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