微纳光学
Micro-nano optics
LBTEK提供的光束质量分析仪人机交互界面简单易操作，为激光束提供全面的分析和统计。BeamPro软件使用标准通信协议。可以通过网络从远程屏幕控制多个BeamPro。它们适用于波长375 nm-1100 nm和光斑尺寸至11.2 mm的光束。对于聚焦光束测量，也有像素小至2.2 μm的高分辨率。有效探测面积最大为11.2 mm*11.2 mm，分辨率420万像素，最短曝光时间10 µs。支持多种参数和方法（包括ISO计算），客户机/服务器接口，可通过网络进行远程控制，光束质量分析仪内部集成的功率计可由用户自行校准，因此不需要使用外部功率计就能理想地同步并优化功率和光束形状。为了补偿环境光，从光束轮廓测量值中减去环境光强度的平均测量值。自动曝光和增益控制功能使相机设置适应实际光束强度。光束质量分析仪发货时附带BeamPro软件包。
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工作波长
375 nm-1100 nm（190 nm–1100 nm，紫外可选）
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传感器类型
CMOS 12位
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PC接口
USB 3.1
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尺寸（mm）
36.1 mm x 39 mm x 46.1 mm
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LBTEK光束质量分析仪人机交互界面简单易操作，为您的激光束提供全面的分析和统计。BeamPro软件使标准通信协议。可以通过网络从远程屏幕控制多个BeamPro。它们适用于375 nm-1100 nm的工作波长和光斑直径至11.2 mm的光束。对于聚焦光束测量，也有像素小至2.2 μm的高分辨率。光束质量分析仪包含一个高质量的12位CMOS，有效探测面积最大11.26 mm*11.26 mm，分辨率420万像素，最短曝光时间10 µs。
| 产品型号 | 工作波长 | 光束直径范围 | 探测面积 | 对比 | 文件 | 单价 | 发货日期 | 购物车 | |
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BP 6.4 | 375 nm-1100 nm（190 nm–1100 nm，紫外可选） | 18 μm~4.2 mm | 5.6 mm x 4.2 mm |
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￥31500 | 8周 |
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BP 11.7 | 375 nm-1100 nm（190 nm–1100 nm，紫外可选） | 48 μm-7.0 mm | 11.2 mm x 7 mm |
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￥42000 | 8周 |
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BP 11.11 | 375 nm-1100 nm（190 nm–1100 nm，紫外可选） | 48 μm-11.2 mm | 11.2 mm x 11.2 mm |
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￥54750 | 8周 |
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