光束质量分析仪——麓邦商城官网

参数规格

产品说明

光束特性实时提取
可用于连续或脉冲激光
可见光和紫外波长可选
提供中性密度滤光片选项
增强背景和热像素处理，实现最佳动态和信噪比

LBTEK提供的光束质量分析仪人机交互界面简单易操作，为激光束提供全面的分析和统计。BeamPro软件使用标准通信协议。可以通过网络从远程屏幕控制多个BeamPro。它们适用于波长375 nm-1100 nm和光斑尺寸至11.2 mm的光束。对于聚焦光束测量，也有像素小至2.2 μm的高分辨率。有效探测面积最大为11.2 mm*11.2 mm，分辨率420万像素，最短曝光时间10 µs。支持多种参数和方法（包括ISO计算），客户机/服务器接口，可通过网络进行远程控制，光束质量分析仪内部集成的功率计可由用户自行校准，因此不需要使用外部功率计就能理想地同步并优化功率和光束形状。为了补偿环境光，从光束轮廓测量值中减去环境光强度的平均测量值。自动曝光和增益控制功能使相机设置适应实际光束强度。光束质量分析仪发货时附带BeamPro软件包。

通用参数

工作波长

375 nm-1100 nm（190 nm–1100 nm，紫外可选）

传感器类型

CMOS 12位

PC接口

USB 3.1

尺寸（mm）

36.1 mm x 39 mm x 46.1 mm

光束质量分析仪，CMOS相机式

分辨率：最高可达5472 x 3648
最小单像素尺寸：2.2 µm*2.2 µm
C Mount光学接口

LBTEK光束质量分析仪人机交互界面简单易操作，为您的激光束提供全面的分析和统计。BeamPro软件使标准通信协议。可以通过网络从远程屏幕控制多个BeamPro。它们适用于375 nm-1100 nm的工作波长和光斑直径至11.2 mm的光束。对于聚焦光束测量，也有像素小至2.2 μm的高分辨率。光束质量分析仪包含一个高质量的12位CMOS，有效探测面积最大11.26 mm*11.26 mm，分辨率420万像素，最短曝光时间10 µs。

实测光斑尺寸图

	产品型号	工作波长	光束直径范围	探测面积	对比	文件	单价	发货日期 	购物车
	BP 11.7	375 nm-1100 nm（190 nm–1100 nm，紫外可选）	48 μm-7.0 mm	11.2 mm × 7 mm			￥42000	联系客服	加入购物车
	BP 11.11	375 nm-1100 nm（190 nm–1100 nm，紫外可选）	48 μm-11.2 mm	11.2 mm × 11.2 mm			￥54750	当天	加入购物车