LBTEK 提供可用于固体分析的滤光片支架、反射测量支架、漫反射光纤探头等光谱测量配件，通过LBTEK 提供的适配光纤，可与我们的光谱仪和光源集成简易检测系统。滤光片支架可用于吸光度测量和荧光采样等应用场景，反射测量支架则可以用于反射光谱测量，漫反射光纤探头除了可以测量漫反射光谱，还可以用于检测固体表面的荧光光谱。
LBTEK 提供的漫反射光纤探头可用于测量漫反射光谱，以及检测固体表面的荧光光谱。在45°方向和90°方向各有1个LB74UV光纤准直透镜，分别连接光源与探测器，可在检测过程中收集目标光谱并有效避免样品镜面反射光的干扰。每个准直透镜前端均可安装直径10 mm的滤光片，滤光片通过卡环固定。测量荧光光谱时，一片安装在激发光路，用于消除激发光源主峰外的杂峰，另一片安装在探测光路，用于滤除荧光辐射光谱中的激发光成分。
LBTEK 提供的滤光片支架包含两个LB74UV光纤准直透镜和一个M3塑料大头螺丝。工作波长范围为185 nm-2500 nm的准直透镜被固定在滤光片支架的两端，光轴距离底部高度为15 mm，可连接SMA905接口的光纤，其中一端用于光纤（照明光纤）耦合光源输入，另一端通过光纤（读取光纤）连接到光谱仪等测量仪器中。M3塑料大头螺丝则用于固定滤光片，可夹持的最大滤光片厚度为10 mm。
LBTEK 提供的反射测量支架具有稳定、可多方向控制光纤入射和出射角度的特点，可广泛用于需要非固定角度测量的场景中。反射测量支架的底座直径为150 mm，采样区域直径为100 mm，且在底座台面设计了多个直径不同的同心圆便于样品定位。顶部的支架可夹持最大直径为6.35 mm的光纤探头或其它采样光学器件，通过侧面的M4大头螺丝固定。上下滑动不锈钢接杆可调节采样高度，最大可调节高度为底座台面上方约85 mm的位置，调节至目标位置后可通过侧面的M6大头螺丝固定。LBTEK 反射测量支架可用于固体和粉末样品的反射率测量，也可以用来固定光纤探头和光源，具有非常好的灵活性和实用性。
