LBTEK 提供的漫反射光纤探头包含两个LB74UV光纤准直透镜，每个准直透镜前端设有直径为10mm的滤光片安装槽和卡环（滤光片自行加载或更换）。该探头除了可以测量漫反射光谱，还可以用于检测固体表面的荧光光谱。测量荧光光谱时，可在准直透镜前端分别安装滤光片。一片安装在激发光路，用于消除激发光源主峰外的杂峰，另一片安装在探测光路，用于滤除荧光辐射光谱中的激发光成分。本产品的光路说明如右图：光源通过光纤连接至左边接口，经光纤准直透镜将发散光变成平行光照射在样品上。样品表面的反射光或者被激发的发射光通过另一端接口耦合至光纤输出，然后连接到测量设备进行测量分析（如光谱仪LBS750）。斜边方向的准直透镜与竖直方向的准直透镜成45度角，在检测过程中收集样品表面的漫反射光，避免了来自样品镜面反射光的干扰。

LBTEK 提供的滤光片支架包含两个LB74UV光纤准直透镜和一个M3塑料大头螺丝。工作波长范围为185 nm-2500 nm的准直透镜被固定在滤光片支架的两端，光轴距离底部高度为15 mm，可连接SMA905接口的光纤，其中一端用于光纤（照明光纤）耦合光源输入，另一端通过光纤（读取光纤）连接到光谱仪等测量仪器中。M3塑料大头螺丝则用于固定滤光片，可夹持的最大滤光片厚度为10 mm。

LBTEK 提供的反射测量支架具有稳定、可多方向控制光纤入射和出射角度的特点，可广泛用于需要非固定角度测量的场景中。反射测量支架的底座直径为150 mm，采样区域直径为100 mm，且在底座台面设计了多个直径不同的同心圆便于样品定位。顶部的支架可夹持最大直径为6.35 mm的光纤探头或其它采样光学器件，通过侧面的M4大头螺丝固定。上下滑动不锈钢接杆可调节采样高度，最大可调节高度为底座台面上方约85 mm的位置，调节至目标位置后可通过侧面的M6大头螺丝固定。LBTEK 反射测量支架可用于固体和粉末样品的反射率测量，也可以用来固定光纤探头和光源，具有非常好的灵活性和实用性。