光学表面缺陷(划痕-麻点)对照板

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产品说明
  • 可视的划痕-麻点参照,用于光学元件检测
  • OSIP-ISO:ISO 10110-7
  • OSIP-MILB:MIL-PRF-13830B用于麻点编号5到50,ANSI/OEOSC OP1.002用于所有麻点和划痕
  • 带塑料框架,包含硬泡沫盒
LBTEK划痕-麻点对照板(OSIP-ISO、OSIP-MILB)用于光学元件表面质量的评估,通过目视或显微镜比对判定元件表面缺陷的等级。产品提供两种对照板,分别依据不同的评价标准,覆盖 ISO 与 MIL 两套常见的表面质量体系。 使用对照板时,请将其放在需检测的光学元件的旁边,比较光学元件的表面缺陷与对照板上的缺陷。我们的两种对照板都设计用于尺寸分析,这有助于对光学元件的缺陷进行公正的鉴定。建议制造商和用户使用相同的标准。
光学表面缺陷(划痕-麻点)对照板
  • 可视的划痕-麻点参照,用于光学元件检测
  • OSIP-ISO: ISO 10110-7
  • OSIP-MILB: MIL-PRF-13830B用于麻点编号5到50,ANSI/OEOSC OP1.002用于所有麻点和划痕
  • 带塑料框架,包含硬泡沫盒

OSIP-ISO对照板:依据 ISO 10110-7 标准定义。缺陷按物理尺寸评估与分级,不区分划痕与麻点,所有瑕疵均视为不同尺寸的划痕。该板侧重尺寸量化,适合采用 ISO 体系进行表面质量判定的场景。

OSIP-MILB对照板:依据 ANSI/OEOSC OP1.002 标准定义划痕与麻点,麻点编号 5–50 对应 MIL-PRF-13830B 标准。该板按缺陷形状分为划痕与麻点两部分,强调缺陷形貌差异。等级数字表示划痕宽度(单位 µm)或麻点直径(单位 1/100 mm),便于按既定阈值直接比对定级。

OSIP-ISO(顶部)和OSIP-MILB(底部)表面缺陷标准的详细信息

产品型号
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OSIP-ISO 新品划痕范围: 0.016 - 0.63
¥3,610.00
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OSIP-MILB 新品划痕范围: 5 - 120 , 麻点范围: 5 - 100
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