麓邦商城—光束质量测量仪

产品说明

光谱覆盖 190 ‑ 1750 nm，兼容紫外、可见光至近红外波段
4096 × 3072 @ 3.2 μm 高分辨成像，捕捉细微光束轮廓
集成磁吸衰减片套件，倾斜设计避免干涉条纹
感光芯片开窗处理，避免引入额外噪声
软件可计算光斑尺寸、M² 因子、发散角、指向性等全套光束指标

光束质量测量仪是表征激光光束空间特性的核心诊断工具，可精确量化光斑形态、能量分布与发散角等参数，是激光调试、光学系统装调、量子光源光路耦合与性能验证的基础设备。LBTEK 光束质量测量仪由高分辨率面阵 CMOS 探测器与衰减模组组成。探测器搭载高精度光敏芯片，经二维光强采样与低噪声模数转换输出高质量原始光斑数据；搭配多规格衰减组件，可有效规避探测器饱和风险，适配不同功率等级激光测量。配套软件依据 ISO 11146 标准算法开发，实时解算光斑尺寸、质心位置、椭圆度、发散角、M² 因子及指向稳定性等参数，并以伪彩图像直观呈现。软件支持曝光时间、增益、ROI 区域快捷配置，并提供数据日志记录功能，便于测量过程追溯与结果复现。

示意图

光束质量测量仪，190 - 1100 nm

工作波长覆盖 190 - 1100 nm
多分辨率配置，兼顾微光斑与大光斑测量
USB3.0 高速接口，数据传输稳定高效
标配衰减片，最高耐受 1W 功率、1J/cm² 能量密度

LBTEK 190 - 1100 nm 光束质量测量仪面向科研与工业激光测量场景打造，用于 1W 以内光纤、半导体激光的聚焦与准直光斑在线监测与定量检测。该系列产品提供多档分辨率与感光靶面配置，其中 4096 × 3072 像素搭载 3.2 μm 微小像元传感器，可实现微光斑的高精度解析；结合全系列梯度化靶面尺寸，覆盖 32 μm - 15.8 mm 的光斑测量范围。感光芯片采用开窗处理工艺，抑制额外噪声，保障采样信噪比。设备标配 USB3.0 高速接口，数据传输稳定高效。磁吸衰减片套件为标准配置，可按进光量匹配衰减档位，防止探测器饱和受损，满足各类光束质量评估与光斑轮廓分析。

背面接口示意图

产品型号	像元尺寸	工作波长	光斑检测范围	单价	发货日期
BMS0340-VISNIR 新品	3.2 μm	340 - 1100 nm	32 μm - 9.8 mm	¥37,000.00	4周	加入购物车
BMS0324-UVISNIR 新品	3.45 μm	190 - 1100 nm	34.5 μm - 7.1 mm	¥25,000.00	4周	加入购物车
BMS0632-VISNIR 新品	6.4 μm	340 - 1100 nm	64 μm - 15.8 mm	¥52,000.00	4周	加入购物车
BMS-FIL-UVP 新品	衰减片套件	190 - 340 nm	衰减片套件	¥4,000.00	3周	加入购物车

光束质量测量仪，900 - 1750 nm

工作波长900 - 1750 nm
光斑检测范围 50 μm - 5.1 mm
GigE 工业接口，支持长距离传输
标配滤光片，最高耐受 1W 功率、1J/cm² 能量密度

LBTEK 900 - 1750 nm 光束质量测量仪适配光纤激光、激光雷达、光通信光源等红外光束测量场景。BMS0512-IR 采用 1280 × 1024 分辨率搭配 5 μm 像元传感器，覆盖 50 μm - 5.1 mm 光斑测量范围。感光芯片经开窗处理，抑制额外噪声，保障采样精度。配备 GigE 千兆工业网口，支持长距离传输，适配复杂工业环境。磁吸衰减片套件为标准配置，最高耐受 1 W 功率、1 J/cm² 能量密度；2 ‑ 10 fps 可调帧率配置兼顾成像质量，平衡成像品质与后端计算、存储压力，满足该波段各类激光光束分析需求。

背面接口示意图

	产品型号	像元尺寸	工作波长	光斑检测范围	文件	单价	对比	发货日期
	BMS0512-IR 新品	5 μm	900 - 1750 nm	50 μm - 5.1 mm		¥120,000.00		4周	加入购物车